X-RES

Um espetrómetro com resolução extrema capaz de resolver artefatos espetrais muito próximos

 

  • Perfeito para aplicações que precisem de alta resolução
  • Possibilidade do utilizador mudar fendas e filtros
  • Resolução ótica de 0.05 nm (FWHM)
  • Desenho ótico melhorado – Para uma distância focal de 100 mm
  • Software LightScan Incluído

X-RES é o espetrómetro perfeito para aplicações que precisem de resolução extrema com capacidade para resolver artefactos espetrais próximos como 0.05 nm (FWHM). Assemblado numa bancada ótica compacta e robusta com distância focal de 100mm, o espetrómetro X-RES apresenta uma performance e sensibilidade assinaláveis com uma excelente simetria de picos em toda a gama operacional de comprimento de onda, tornando esta série de espetrómetro perfeita para aplicações que precisem de alta resolução.

Funcionalidades como a possibilidade do utilizador mudar fendas e adicionar filtros, indicador LED de funcionamento e funções de trigger in/out oferecem simplicidade e versatilidade a qualquer configuração espectroscópica que contenha este espectrómetro. A gama X-RES encontra-se disponível de forma pré-configurada (todos os componentes do espectrómetro estão definidos) ou configurável (componentes selecionados pelo utilizador). Para qualquer uma das configurações do X-RES selecionadas é possível optar pela adição de uma lente coletora, que maximiza a sensibilidade do equipamento.

A solução ideal para aplicações que precisem de alta resolução ótica

A gama de espetrómetros X-RES tem uma bancada ótica com distância focal de 100 mm que combinada com redes de difração com alta densidade de linhas produz uma solução com alta resolução (entre 0.05 e 0.07nm) dentro de uma gama UV/Vis/NIR.

Combine espetrómetros para gamas alargadas ou específicas de alta resolução

A Sarspec disponibiliza o espetrómetro X-RES em 8 configurações com gamas de comprimento de onda complementares visando a deteção com alta resolução em toda a gama UV/Vis/NIR. A combinação de múltiplos espetrómetros permite deteção de alta resolução em zonas espetrais de especial interesse ou gamas alargadas de alta resolução.

Controle a sensibilidade e resolução do seu espectrómetro

Com a gama X-RES, pode tirar partido da funcionalidade de alterar as fendas e filtros. A função de mudar as fendas oferece uma forma simples e rápida de definir a resolução/sensibilidade ideal, ao passo que a função de adicionar/alterar filtros proporciona a capacidade de limitar a gama de comprimentos de onda do espectrómetro, sem que seja necessário alterar os componentes óticos. Estas funcionalidades permitem ao utilizado mudar da configuração de absorvância para a configuração de fluorescência, em poucos minutos.  Adicione um SLIT KIT à sua encomenda e obtenha toda a flexibilidade que precisa.

Fácil de integrar na sua configuração

Sendo um espectrómetro com conexão por fibra ótica SMA 905, o X-RES pode ser utilizado numa vasta gama de configurações espectroscópicas, sem que haja a necessidade de um alinhamento ótico complexo. Esta flexibilidade é complementada com um conjunto de ferramentas de integração que incluem triggers (triggers e delays) e pacotes de software para LabVIEW ™ ou DLL, para o desenvolvimento de software. O FLEX e todos os outros componentes que constituem a configuração espectroscópica podem ser centralizados para um controlo total com o nosso SPEC Hub.

Exemplos de configurações

Absorbance and Transmittance Measurements

L

Sample Holder (Cuvette)

L

Optical Fiber

L

Optical Fiber

L

Spectrometer

L

LS-DW

Espetrómetros Pré-Configurados

 

Os espetrómetros X-RES estão disponíveis em soluções pré-configuradas para 8 gamas de comprimento de onda dentro da gama UV/Vis/NIR. As especificações gerais para as soluções pré-configuradas são dadas na tabela em baixo. Informação detalhada sobre gamas de comprimento de onda e correspondentes resoluções óticas são dadas nas secção de Referências para Encomendas. 

Descrição
Valor
Gama de Deteção
185-1100 nm (dividida em 8 gamas operacionais curtas)
Largura da Fenda
10 µm
Rede de Difração
Selecionada de acordo com a gama
Lente Coletora
Opcional - Incluida na versão "Improved Sensitivity"
Detetor
3648-elementos Toshiba
Resolução Óptica
0.05 a 0.07 nm
Conetor de Fibra Óptica
SMA 905
Tempo de Integração
3 ms - 214 segundos
Interface
Mini-USB
Trigger
In / Out
Software
LightScan (Incluído)

Aplicações Típicas

O X-RES é um espetrómetro com uma resolução ótica assinalável exceder as expetativas em medições da maior exigência para alta resolução. A possibilidade o utilizador mudar a fenda permite que o espetrómetro seja configurado para medições que exijam maior sensibilidade, utilizando fendas com maior largura. A sensibilidade pode ainda ser aumentada com a adição de uma lente coletora na versão “Improved Sensitivity”. Toda flexibilidade proposta neste produto torna-o como a solução perfeita para aplicações de alta resolução como caraterização do comprimento de onda de lasers e LEDs, monitorização as linhas de emissão espetral de lâmpadas de calibração ou a determinação das linhas de emissão atómica de elementos. Descubra mais sobre a flexibilidade dos nossos setups de medição utilizando o Espetrómetro X-RES na nossa Base de Dados de Aplicações. 

Referências para Encomendas

Descrição
Espetrómetro X-RES 1
Espetrómetro X-RES 2
Espetrómetro X-RES 3
Espetrómetro X-RES 4
Espetrómetro X-RES 5
Espetrómetro X-RES 6
Espetrómetro X-RES 7
Espetrómetro X-RES 8
Gama de Comprimento de Onda
190-290 nm
280-380 nm
370-460 nm
440-520 nm
500-620 nm
600-710 nm
690-810 nm
780-960 nm
Resolução Óptica
0.06 nm
0.05 nm
0.05 nm
0.05 nm
0.07 nm
0.06 nm
0.07 nm
0.06 nm
Referência
Versão Base
X-RES-1
X-RES-2
X-RES-3
X-RES-4
X-RES-5
X-RES-6
X-RES-7
X-RES-8
Improved Sensitivity
X-RES-1-IS
X-RES-2-IS
X-RES-3-IS
X-RES-4-IS
X-RES-5-IS
X-RES-6-IS
X-RES-7-IS
X-RES-8-IS

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