Padrões de Refletância

  • Para Refletância Difusa e Especular
  • Gama de Comprimento de Onda de 250 a 2500 nm
  • Diâmetro de 50 mm
  • Suporte de Alumínio Anodizado
Numa medida de refletância, a quantidade de luz refletida por uma amostra é calculada em relação à quantidade de luz refletida por uma referência, que se define por uma refletância de 100 %. Para as medidas de refletância, a Sarspec possui um conjunto de referências, produzidas em politetrafluoretileno óptico (PTFE), com uma percentagem de luz refletida de 10%, 50% e 98%, entre 250 e 2500 nm.

Estas referências são hidrofóbicas, quimicamente inertes e podem ser limpas. Para além disso, estas referências também oferecem uma grande estabilidade a longo prazo, mesmo em medições no UV. Para medidas de refletância especulares, a Sarspec possui um substrato de sílica fundido, revestido com Al-MgF2, para uma refletividade especular elevada, entre 250 e 2500 nm.

Exemplos de Configurações

Configuração para Medida de Refletância

L

Sample Holder (Cuvette)

L

Optical Fiber

L

Optical Fiber

L

Spectrometer

L

LS-DW

Informações Técnicas

 

Gama de Comprimento de Onda
Refletância Difusa
250-2500 nm
Refletância Especular
Material da Célula
Refletância Difusa
PTFE Óptico
Refletância Especular
Sílica Fundida/Al-MgF2
Material do Suporte
Refletância Difusa
Alumínio Anodizado Preto
Refletância Especular
Espessura
Refletância Difusa
10 mm
Refletância Especular
12 mm
Temperatura Máxima
Refletância Difusa
260ºC
Refletância Especular
80ºC

Referências Para Encomendar

Referência
DRSTD98
DRSTD50
DRSTD10
SRSTD
Descrição
Padrão de Refletância Difusa, PTFE, 98% de Refletância
Padrão de Refletância Difusa, PTFE, 50% de Refletância
Padrão de Refletância Difusa, PTFE, 10% de Refletância
Padrão de Refletância Especular